مشخصات شرکت فناوری خلا کهربا
نام شرکت
شماره تماس
شماره نمابر
معرفی شرکت
شرکت فناوری کهربا، در سال 1390 با ساخت دستگاه EMC Camera فعالیت خود را آغاز نمود و در سال 1391 به عنوان یک شرکت دانش بنیان به عضویت در پارک علم و فناوری دانشگاه تهران درآمد. سپس با ساخت دستگاه ضخامت سنج لایه های نازک با استفاده از پراش فرنل از پله فازی و همچنین دستگاه ارتعاش سنج از راه دور با استفاده از تکنیک ماره وارد حوزه کاری اندازه گیری شد. همچنین دستگاه پروفایلومتر سطح را در سال 1393 معرفی نمود.این شرکت با همکاری با خبرگان دانشگاه های معتبر کشور توانست محصولاتی را تولید کند که حتی مشابه خارجی هم ندارند و از لحاظ هزینه تمام شده دارای مزیت رقابتی هستند. دو محصول اخیر در حال دریافت US Patent نیز می باشند. این شرکت دانش بنیان، مدیریت دانش را در اولویت قرار داده و سرمایه اصلی آن متخصصین دانشگاه ها هستند. از طرفی با به کارگیری متخصصین بازارهای جهانی، جهانی شدن و رقابت در بازارهای بین المللی نیز از اهداف شرکت است.
نشانی
تهران-تهران--تیموری ، خیابان آزادی ، بن بست شهید ابوالفضل قدیر ، پلاک 5 ، ساختمان سادات ، طبقه 3 ، واحد 12--کوچه قدیر-5-12
وب سایت
ایمیل رسمی
حوزه فعالیت نمایشگاهی
کاتالوگ
دانلودویدیو
دوره های شرکت در نمایشگاه
- دومین نمایشگاه تجهیزات
- سومین نمایشگاه تجهیزات
- چهارمین نمایشگاه تجهیزات
- پنجمین نمایشگاه تجهیزات
- ششمین نمایشگاه تجهیزات
- هفتمین نمایشگاه تجهیزات
- هشتمین نمایشگاه تجهیزات
- نهمین نمایشگاه تجهیزات
- دهمین نمایشگاه تجهیزات
- یازدهمین نمایشگاه تجهیزات
- دوازدهمین نمایشگاه تجهیزات
لیست محصولات
کد | آخرین حضور | نوع محصول | نام | مدل | سطح حمایتی |
---|---|---|---|---|---|
1569 | چهارمین نمایشگاه تجهیزات | ضخامتسنج | دستگاه ضخامت سنج لایه های نازک با استفاده از پراش فرنل از پله فازی | FDP - D1 | سطح اول |
7984 | چهارمین نمایشگاه تجهیزات | اندازهگیری پروفیل سطح | پروفیلومتر لیزری سطح | LPM - D1 | سطح دوم |
2229 | سومین نمایشگاه تجهیزات | موازی ساز تور | بیم اکسپندر Beam Expander | چهار میله | سطح سوم |
2766 | سومین نمایشگاه تجهیزات | میکروسکوپ الکترونی عبوری | دوربین میکروسکوپ الکترونی عبوری (دوربین ثبت تصاویر ناشی از تشعشعات پر انرژی) | EMC-8.3 | سطح اول |
4228 | سومین نمایشگاه تجهیزات | میکروسکوپ الکترونی عبوری | دوربین میکروسکوپ الکترونی عبوری EMC 16.8 | EMC 16.8 | سطح اول |
1569 | سومین نمایشگاه تجهیزات | ضخامتسنج | دستگاه ضخامت سنج لایه های نازک با استفاده از پراش فرنل از پله فازی | FDP - D1 | سطح اول |
7984 | سومین نمایشگاه تجهیزات | اندازهگیری پروفیل سطح | پروفیلومتر لیزری سطح | LPM - D1 | سطح دوم |
2229 | دومین نمایشگاه تجهیزات | موازی ساز تور | بیم اکسپندر Beam Expander | چهار میله | |
4228 | دومین نمایشگاه تجهیزات | میکروسکوپ الکترونی عبوری | دوربین میکروسکوپ الکترونی عبوری EMC 16.8 | EMC 16.8 | |
2766 | دومین نمایشگاه تجهیزات | میکروسکوپ الکترونی عبوری | دوربین میکروسکوپ الکترونی عبوری (دوربین ثبت تصاویر ناشی از تشعشعات پر انرژی) | EMC-8.3 | |
4237 | دومین نمایشگاه تجهیزات | ضخامتسنج | دستگاه ضخامت سنج لایه های نازک با استفاده از پراش فرنل از پله ی فازی (آنالوگ) | ّFDP - M1 | |
1569 | دومین نمایشگاه تجهیزات | ضخامتسنج | دستگاه ضخامت سنج لایه های نازک با استفاده از پراش فرنل از پله فازی | FDP - D1 |
برای مشاهده ی جزئیات بیشتر، لطفا برروی شرکت فناوری خلا کهربا کلیک کنید.