مشخصات محصول میکروسکوپ نیروی اتمی

AFM به عنوان ضروری ترین ابزار در پروژه های نانو علاوه بر توپوگرافی و تصویرگیری در مقیاس مولکولی و اتمی توانایی تعیین خواص فیزیکی ، شیمیایی ، مکانیکی ، الکترونیکی و مغناطیسی مواد را در مقیاس نانو دارا می باشد . از جمله ویژگی های این دستگاه میتوان به تصویر برداری در محیط خلا، عدم وجود ذرات مزاحم در پی ایجاد خلا بر روی سطح نمونه ها و عدم وجود یخ زدگی ذرات رطوبت هوا بر روی سطح نمونه اشاره کرد.

ندارد